T. V. Amotchkina, M. K. Trubetskov, A. V. Tikhonravov, V. Janicki, J. Sancho-Parramon, H. Zorc. Comparison of two techniques for reliable characterization of thin metal–dielectric films. // Applied Optics. 2011. Vol. 50. N 33. 6189-6197.

Оптические константы тонких металлических пленок сильно зависят от условий напыления и от толщины. В данной работе мы сравнили метод определения оптических констант, основанный на представлении показателя преломления и коэффициента экстинкции как произвольных гладких функций, и хорошо известный подход, основанный на осцилляторной модели. Результаты оказались очень близкими, что подтверждает их надежность и обосновывает наш универсальный подход. Сравнение проведено для 20-ти образцов пленок серебра и золота, заключенных между слоями оксида кремния. Оптические константы необходимы для дизайна многослойных покрытий, содержащих тонкие металлические слои.

Ключевые слова: Optical materials, Multilayers, Surface plasmons, Metallic, opaque, and absorbing coatings, Multilayer design.